Sonda de puerto único y doble de CC a 110 GHz, sonda manual de CC a 40 GHz

La sonda de radiofrecuencia es una herramienta clave para las pruebas de señales de alta frecuencia, ampliamente utilizada en la medición y análisis de circuitos electrónicos, dispositivos semiconductores y sistemas de comunicación.

Características:
1. Medición de alta precisión: Las sondas de RF pueden medir con precisión parámetros de señales de RF, como frecuencia, amplitud, fase, etc. Su diseño especial y proceso de fabricación garantizan la precisión y confiabilidad de los datos de medición.
2. Respuesta rápida: La velocidad de respuesta de las sondas de RF es muy rápida y la medición de la señal se puede completar en muy poco tiempo, lo que satisface las necesidades de pruebas rápidas.
3. Buena estabilidad: durante el uso a largo plazo, el rendimiento de la sonda de RF es estable y no se ve afectado fácilmente por factores ambientales u otros factores externos.
4. Capacidad de transmisión de alta frecuencia: las sondas de RF son capaces de procesar señales de hasta decenas de GHz o incluso frecuencias más altas, lo que las hace adecuadas para las necesidades de prueba de circuitos de alta frecuencia y equipos de comunicación modernos.

Solicitud:
1. Pruebas de sistemas de comunicación: Aplicable a circuitos integrados de comunicación, radar y RF. Se utiliza para evaluar y optimizar el espectro radioeléctrico, la potencia de RF y el rendimiento del módem.
2. Prueba del sistema de radar: medir la sensibilidad, la respuesta de frecuencia y la capacidad antiinterferencias del receptor de radar.
3. Pruebas de circuitos integrados de RF: analizar y optimizar las características de frecuencia, el consumo de energía y la gestión térmica de los circuitos integrados.
4. Prueba de antena: evaluar y optimizar el rendimiento de la antena.
5. Sistema de guerra electrónica: se utiliza para probar y analizar el rendimiento de RF del equipo de guerra electrónica.
6. Rendimiento de los circuitos integrados de microondas (MMIC) y otros dispositivos, y puede medir las características reales de los componentes de RF a nivel de chip.